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Kommission Kartographie & Forschung

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Workshop: Kritische Kartographie

08.09.2025 - Vienna

Call for abstracts (May 31st) - Englisch

Die Kritische Kartographie hat die Kartographie grundlegend verändert. Sie hat u.a. Grundlagen für partizipative Ansätze geschaffen, die Etablierung von Karten als Repräsentationen von Macht vorangetrieben und das Themenspektrum der thematischen Kartographie erweitert. Dabei hat sie ein Verständnis für Perspektivwechsel innerhalb der Kartographie etabliert.

Veröffentlichungen der letzten Jahre deuten auf eine Perspektivenvielfalt hin, wie vor dem Hintergrund aktueller Weiterentwicklungen in den Geoinformationswissenschaften die Kritische Kartographie einzuordnen ist (z.B. neue Software, neue Datenressourcen, neue Endgeräte, neue Kommunikation, Künstliche Intelligenz). Wo liegen in der heutigen Zeit die Stärke der Kritischen Kartographie? Sind Aspekte von ihr veraltet und wirken dysfunktional, sodass sich eine Post-kritische Kartographie ergibt? Wie ist die kritische Perspektive vor dem Hintergrund der rapiden technischen Entwicklungen in Bereichen wie Big Data oder Künstliche Intelligenz zu bewerten?

Diese und viele andere Fragen rufen nach interdisziplinärem Austausch. Daher laden wir, Sebastian Meier (FH Potsdam) und Dennis Edler (Ruhr Universität Bochum), zu einem gemeinsamen Workshop ein, in dem wir die Perspektivenvielfalt ergründen und grundlegende Fragen rund um den aktuellen Stand kritischer Kartographie diskutierten wollen. Ergebnisse sollen in einem Themenheft „The Future of Critical Cartography“ im Journal KN – Journal of Cartography and Geographic Information” festgehalten warden.

Der Workshop findet im Rahmen der EuroCarto 2024 in Wien (Technische Universität) statt.

Datum: 8. September

Zeit: TBA

Deadline für Beiträge: 31. Mai

Vortrag-Abstracts von maximal einer Seite (ohne Referenzen) können bis zum 31. Mai, via Email eingereicht werden: dennis.edler@rub.de. Alle aktiven Teilnehmer:innen sind eingeladen ihren Beitrag als Full Paper für das Special Issue einzureichen. Wir bitten zu beachten, dass für die Aufnahme in das Special Issue ein weiteres Peer Review stattfindet.